+7 (499) 709-81-01

Заявка на звонок
Генеральный дистрибьюторГенеральный дистрибьютор Shimadzu Официальный дистрибьюторОфициальный дистрибьютор CEM
Вы находитесь здесь:Оборудование/Электронно-зондовые анализаторы и микроскопы/SPM-8000FM Сканирующий зондовый микроскоп

SPM-8000FM Сканирующий зондовый микроскоп

С помощью SPM-8000FM можно:

  • получать трехмерное изображение высокого разрешения рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч и миллионов раз

  • существенно уменьшить шумы благодаря атомно-силовому методу с частотной модуляцией (уровень шумов до уровня 1/20 от существующих методов). Уровень шумов составляет всего: 20 фм/Гц.

  • измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:

  • механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)

  • электрических (потенциал, проводимость)

  • магнитных (распределение намагниченности)

  • исследовать образцы на воздухе и в жидкостях в сравнении с приборами, работающими только в вакууме. Кроме того, появилась возможность наблюдения гидратации/сольватации слоев на границе раздела твердой и жидкой фаз.

SPM-8000FM может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.