Описание
Электронно-зондовые микроанализаторы компании Shimadzu совмещают рентгенофлуоресцентный анализ с микроскопией, что позволяет совместить элементный анализ и получение изображения поверхности.
Области применения:
- качественный элементный анализ
- построение карт распределения элементов
- количественный анализ без использования стандартов, количественный анализ по калибровочным кривым
- получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных или отраженных электронах)
Диапазон элементов, определяемых с помощью моделей EPMA — от 4 (Ве) до 92 (U),
количество волнодисперсионных рентгенофлуоресцентных спектрометров – от 2 до 5,
угол регистрации рентгеновского излучения — 52.5° (возможность анализа образцов с неровной поверхностью):
Разрешение оптической системы при визуальном наблюдении — 1 мкм,
увеличение — 40 — 400 000 кратное.
Изображение с оптического микроскопа появляется на том же мониторе, что и изображение с электронного микроскопа: