Описание
Анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus — это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения в нано- и суб-нанодиапазоне. Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу, позволяет измерять размеры наночастиц в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом.
Высокочувствительный анализ размеров наночастиц методом индуцированной решетки
Для анализа используется метод индуцированной решетки (induced grating — IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью.
Загрязнение исходного образца не влияет на результаты измерения
Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнение исходного образца не влияет на результаты измерения. Даже если образец смешан с некоторым количеством посторонних частиц, информация об анализируемых частицах регистрируется достоверно. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не обязательна.
Воспроизводимость
Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость, получение стабильных данных и устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано-области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм.
Что такое «Метод индуцированной решетки»?
На электроды, расположенные специальным образом и помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создаётся определённое расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.
Принципиальная особенность метода индуцированной решетки
-Высокая точность измерений достигается при помощи специальной конструкции электродов
Электроды, на которые подается переменное напряжение, также представляют собой дифракционную решетку. Интенсивность рассеянного света, создаваемого этой решеткой ниже интенсивности света рассеиваемого дифракционной решеткой частиц. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют, и дифракционная решетка распадается. При этом интенсивность света, рассеянного частицами, постепенно падает. Чтобы обеспечить точность измерения падения интенсивности света в процессе диффузии, важно разделить дифракционные картины, получаемые от решетки электродов и от рассеяния света частицами. Поэтому электроды сконструированы таким образом, что шаг дифракционной решетки частиц, которая формируется при подаче напряжения, в 2 раза больше шага дифракционной решетки самих электродов (патент).
